宣兆龙,程泽,刘亚超.红外敏感器加速寿命试验方法研究[J].装备环境工程,2012,9(6):44-46,50. XUAN Zhao-long,CHENG Ze,LIU Ya-chao.On Accelerated Life Test Method of High-power Infrared Sensor[J].Equipment Environmental Engineering,2012,9(6):44-46,50.
红外敏感器加速寿命试验方法研究
On Accelerated Life Test Method of High-power Infrared Sensor
投稿时间:2012-07-27  修订日期:2012-12-15
DOI:
中文关键词:  加速寿命试验  红外敏感器  评估
英文关键词:accelerated life test (ALT)  infrared sensor  assess
基金项目:
作者单位
宣兆龙 军械工程学院,石家庄 050003 
程泽 军械工程学院,石家庄 050003 
刘亚超 军械工程学院,石家庄 050003 
AuthorInstitution
XUAN Zhao-long Ordnance Engineering College,Shijiazhuang 050003,China 
CHENG Ze Ordnance Engineering College,Shijiazhuang 050003,China 
LIU Ya-chao Ordnance Engineering College,Shijiazhuang 050003,China 
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中文摘要:
      红外敏感技术能够有效探测复杂背景环境中的目标, 为了获得红外敏感器的长储寿命规律, 利用提高温度应力进行加速寿命试验是一种重要方法。基于威布尔分布假设, 研究了红外敏感器加速寿命试验的关键技术, 并提出了加速寿命试验程序。
英文摘要:
      The thermal target under complex background environment can be detected effectively by infrared detection technology. In order to acquire the life information of infrared sensor, accelerated life test (ALT) was conducted with increased temperature stress. Weibull distribution function was applied to study some key technologies of ALT of infrared sensor. The procedure of the accelerated life test was put forward.
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