程泽,宣兆龙,刘亚超,郝茂森.基于Bayes的电子元件高温贮存试验方法研究[J].装备环境工程,2013,10(4):20-22,46. CHENG Ze,XUAN Zhao-long,LIU Ya-chao,HAO Mao-sen.High Temperature Storage Test Method of Electronic Component Based on Bayes[J].Equipment Environmental Engineering,2013,10(4):20-22,46.
基于Bayes的电子元件高温贮存试验方法研究
High Temperature Storage Test Method of Electronic Component Based on Bayes
投稿时间：2013-02-24  修订日期：2013-07-01
DOI：10.7643/issn.1672-9242.2013.04.006
中文关键词:  电子元件  高温贮存试验  加速寿命试验  无失效数据  Bayes估计
英文关键词:将工厂试验数据作为先验信息,应用Bayes方法确定电子元件高温贮存试验的试样数量,其结果明显少于GJB345A—2005中规定的试样数量。基于不同试验结果,通过构建寿命模型和确定先验分布,分别得到了电子元件的寿命分布和失效概率的Bayes估计。electronic component  high temperature storage test  accelerated life test  zero-failure data  Bayes estimation
基金项目:
作者单位
程泽 军械工程学院，石家庄050003 
宣兆龙 军械工程学院，石家庄050003 
刘亚超 军械工程学院，石家庄050003 
郝茂森 总装备部工程兵军代局驻西安和兰州地区代表室，西安710000 
AuthorInstitution
CHENG Ze Ordnance Engineering College，Shijiazhuang050003，China 
XUAN Zhao-long Ordnance Engineering College，Shijiazhuang050003，China 
LIU Ya-chao Ordnance Engineering College，Shijiazhuang050003，China 
HAO Mao-sen The Military Representative Office of Engineer Military Representative Bureau in Xi’an and Lanzhou，Xi’an710000，China 
摘要点击次数:
全文下载次数:
中文摘要:
      将工厂试验数据作为先验信息，应用Bayes方法确定电子元件高温贮存试验的试样数量，其结果明显少于GJB345A—2005中规定的试样数量。基于不同试验结果，通过构建寿命模型和确定先验分布，分别得到了电子元件的寿命分布和失效概率的Bayes估计。
英文摘要:
      Based on the factory test data, the samples of electronic component high temperature storage test were determined based on Bayes, which are less than the samples defined by GJB345A-2005. The lifetime distribution of electronic component and the Bayes estimation of failure probability were obtained by structuring lifetime model and determining prior distribution based on the different test results.
查看全文  查看/发表评论  下载PDF阅读器
关闭

关于我们 | 联系我们 | 投诉建议 | 隐私保护 | 用户协议

您是第12768006位访问者    渝ICP备15012534号-5

版权所有:《装备环境工程》编辑部 2014 All Rights Reserved

邮编：400039     电话：023-68792835    Email: zbhjgc@163.com

视频号 公众号